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学术报告

2021年3月5日学术报告会

2021年03月04日  

报告时间:2021年3月5日,早上9:00—10:00

报告地点:计算机学院科技楼413会议室

会议主题:硅像素芯片及其探测技术

报告人:孙向明 中科院高能所博士,美国伯克利国家实验室博士后,华中师范大学教授

邀请人:胡永才

主持人:郑然

报告摘要

采用CMOS工艺设计像素传感器芯片,可以高能测量带电粒子或者空间电荷。用于束流定位,对撞机顶点探测器,无中微子双贝塔衰变实验和空间X射线偏振的测量等科学实验。也可以用于医疗成像等领域,能够显著提高目前医疗成像探测器的效果。硅像素芯片是探测器技术和集成电路技术的交叉领域,未来有广阔的发展空间。

报告人简介

1999年-2003年 山东大学 物理学专业 学士

2003年-2008年 高能物理研究所 理论物理专业 博士

2008年-2011年 美国伯克利国家实验室 STAR PXL探测器开发 博士后

2011年-2018年 华中师范大学 像素探测器 教授

2016年,湖北省“优秀青年骨干人才”,主持国家重大研发计划等多项国家级课题。

博士毕业后到美国伯克利国家实验室做博士后,参与STAR PXL探测器开发,负责STAR PXL探测器的读出固件设计。回国后再华师大建设像素实验室PLAC(Pixel Laboratory At CCNU),专门研究像素探测器。设计了MIC1和MIC2, MIC3几款MAPS原型芯片以及应用于CEPC项目预研的MIC4芯片。发明了一种收集空间电荷的芯片Topmetal,就是将CMOS像素的电极从顶层金属层开窗以收集空间电荷。将低噪声作为Topmetal的重点研究方向,设计了Topmetal-II-芯片,等效电子噪声降至13.9,为所知同型类芯片最低。采用Topmetal-II-芯片设计了强子癌症治疗束流位置探测器,进行了束流测试,对束流中心位置的分辨达到17微米。为无中微子双贝塔衰变实专门开始设计Topmetal-S芯片,可以在不需要雪崩放大的条件下实现电荷读出。可应用于未来的无中微子双贝塔衰变实验。

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